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技(ji)術(shu)文章(zhang)
頻相位(wei)儀/相位(wei)頻率(lv)計 型(xing)號(hao):DP24192
更新(xin)時間(jian):2019-01-22
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頻相位(wei)儀/相位(wei)頻率(lv)計 型(xing)號(hao):DP24192
、概述
頻(pin)相位(wei)儀系(xi)、度、可靠性的電(dian)力相位(wei)及頻測試(shi)儀(yi)器(qi),在內產品中居地位(wei)。
該儀器(qi)囊括(kuo)了(le)電(dian)力相位(wei)測試(shi)的(de)項目(mu),包括(kuo)距(ju)離(li)保護中的大靈敏度,轉移阻抗(kang)角(jiao)等(deng),並(bing)可(ke)在不斷開二次(ci)回(hui)路的情況(kuang)下行保護測試(shi),如作(zuo)六角(jiao)圖(tu)及母差保護等測試(shi)。
二、主(zhu)要標及性能:
1、 頻頻率(lv)測(ce)試(shi):
輸(shu)入信號(hao): AC1V~500V正弦(xian)波(bo)
測(ce)試(shi)範(fan)圍(wei): 16.00(Hz)~99.99(Hz)
誤(wu)差: 0.01(Hz)
主要用(yong)於(yu)度的頻頻率(lv)測試(shi),如:網(wang)頻(pin)監(jian)視(shi)儀、檢驗表(biao)計、頻率(lv)變送器(qi)、以及低(di)周波(bo)繼(ji)電(dian)器(qi)等。
2、 頻(pin)相位(wei)測試(shi)(見(jian)下表)
3、 顯(xian)示(shi)方(fang)式:5位LED數(shu)碼(ma)管顯示(shi)。
標
測試(shi)方(fang)法(fa) 測試(shi)範(fan)圍(wei) 度等級 輸入(ru)信號(hao) 電(dian)壓(ya)輸(shu)入(ru)阻抗(kang)(KΩ) 電(dian)流輸入阻抗(kang)(Ω)
電(dian)壓(ya)(V) 電(dian)流(A)
①U1― U2 0.0-360.0 0.2 1-500 >1000
②U1--I3 0.0-360.0 0.2 1-500 0.1-10.00 >1000 見說明
適(shi)用範(fan)圍(wei):相位(wei)的度測試(shi)。如:現(xian)場(chang)作(zuo)大靈敏度,轉移阻抗(kang)角(jiao)及相位(wei)變送器(qi)等
③U1― I2
(I2用(yong)測試(shi)鉗(qian)) 0.0-360.0 1.0 1-500 0.1-5.0 >1000
④I1----I2
I1 I2均用測(ce)試(shi)鉗(qian) 0.0-360.0 1.0 0.1-5.0
適(shi)用範(fan)圍(wei):用(yong)於(yu)電(dian)氣回路(lu)的(de)不開路(lu)測(ce)試(shi)。如在(zai)二次(ci)回(hui)路作(zuo)六角(jiao)圖(tu)和母差保護測試(shi)等(deng)
說明:測試(shi)方(fang)式②電(dian)流輸入阻抗(kang)0.1-1A檔為(wei)4Ω,1—10.0A為(wei) 0.1Ω