顆粒圖(tu)像(xiang)分析(xi)儀(yi)/顯(xian)微圖(tu)像(xiang)分析(xi)系(xi)統/顯(xian)微圖(tu)像(xiang)儀 型(xing)號DP-2006

、DP-2006顆圖(tu)像(xiang)分析(xi)儀(yi)基(ji)本(ben)參數(shu)

•     測(ce)試(shi)範圍：1-3000微米(mi)；
•     顯(xian)微鏡(jing)：中(zhong)外合資光(guang)學(xue)顯(xian)微鏡(jing)（可選配其(qi)他種(zhong)類(lei)顯(xian)微鏡(jing)，如口(kou)顯(xian)微鏡(jing)、金相(xiang)顯(xian)微鏡(jing)等）；
•     數(shu)字攝(she)像機(ji)：300像素；
•     大(da)光(guang)學(xue)放(fang)大(da)倍數：1600倍(bei)；
•     系(xi)統總(zong)放大(da)倍數：5000倍；
•     大分辨(bian)率：0.1微米(mi)/像(xiang)素；
•     重(zhong)復(fu)性(xing)誤差(cha)：<3%（不包含樣(yang)品制備因(yin)素成(cheng)的(de)誤差(cha)）。

二、DP-2006數字攝像(xiang)機(ji)基(ji)本(ben)參數(shu)

•     像(xiang)素尺寸：3.2μm X 3.2μm；
•     傳感器(qi)類(lei)型：逐行(xing)掃(sao)描CMOS；
•     輸(shu)出(chu)顏(yan)色：bayer彩色；
•     數據(ju)位數(shu)：紅(hong)綠(lv)藍(lan)各(ge)10選8；
•     光學(xue)尺(chi)寸：1/2英寸；
•     鏡(jing)頭接(jie)口(kou)：CS,C；
•     信噪比(bi)：43dB；
•     動(dong)態範圍：60dB；
•     清(qing)晰度(du)：>1000線；
•     曝(pu)光(guang)方(fang)式：ERS；
•     同(tong)步(bu)方(fang)式：外(wai)觸發或連續(xu)采集；
•     輸(shu)出(chu)方(fang)式：USB2.0；
•     數(shu)據傳輸(shu)距(ju)離：數據(ju)傳輸(shu)距(ju)離5米（加(jia)中(zhong)繼可達(da)25m）；
•     可編程控制(zhi)：圖(tu)像(xiang)尺寸、亮度(du)、增(zeng)益(yi)、幀(zhen)率、曝(pu)光(guang)時間(jian)；
•     供(gong)電要求(qiu)：5V；
•     耗：<2.25W；
•     外形尺(chi)寸（mm）：54.5x54.5x46.1（含接(jie)圈）、38x38x38.7（不(bu)含接圈）。

三(san)、DP-2006儀器(qi)組(zu)成(cheng)與(yu)圖(tu)像(xiang)分析(xi)原(yuan)理

• 儀器(qi)組(zu)成(cheng)：
•     DP-2006型(xing)顯(xian)微圖(tu)像(xiang)分析(xi)系(xi)統包(bao)括粒度(du)分(fen)析(xi)軟(ruan)件(jian)、數字攝(she)像(xiang)機(ji)、顯(xian)微鏡(jing)、電腦(nao)、打印機(ji)等組成(cheng)分(fen)。
•    
• 分(fen)析(xi)原(yuan)理：
•     通(tong)過(guo)對顆粒數(shu)量(liang)和(he)每個顆粒所(suo)包(bao)含(han)的像素(su)量(liang)的統計(ji)，計(ji)算(suan)出(chu)每個顆粒的(de)等(deng)效(xiao)面(mian)積圓(yuan)和(he)等(deng)體(ti)積，從(cong)而得到顆粒的(de)等(deng)效(xiao)圓(yuan)面(mian)積(ji)直(zhi)徑(jing)和(he)等(deng)體(ti)積直(zhi)徑(jing)以(yi)及(ji)圓(yuan)形(xing)度(du)等(deng)參數(shu)，再對所有(you)的顆粒行(xing)分(fen)級(ji)統計(ji)，從而得到粒(li)度(du)分(fen)布、圓(yuan)形(xing)度(du)分(fen)布等(deng)信息。

四(si)、DP-2006顆粒圖(tu)像(xiang)分析(xi)儀(yi)軟(ruan)件(jian)能

• 圖(tu)像(xiang)處(chu)理(li)能：
•     對圖(tu)像(xiang)行灰(hui)度(du)轉(zhuan)換(huan)，二值化(hua)，分(fen)割(ge)，刪(shan)除(chu)，剪(jian)切，粘貼(tie)，縮放，填充等系(xi)列(lie)處(chu)理(li)，得到顆粒清(qing)晰(xi)的(de)黑白(bai)二(er)值化(hua)圖(tu)像(xiang)。
•    
• 數據(ju)處(chu)理(li)能：
•     通(tong)過(guo)對圖(tu)像(xiang)行處(chu)理(li)，測(ce)量(liang)軟(ruan)件(jian)自動(dong)統計(ji)出(chu)顆粒個(ge)數(shu)，然(ran)後計(ji)算(suan)每個顆粒所(suo)包(bao)含(han)的像素(su)數(shu)，得出(chu)顆粒的(de)面(mian)積(ji)、等效(xiao)直(zhi)徑(jing)、等(deng)效(xiao)周長、實(shi)際(ji)周長、圓(yuan)形(xing)度(du)等(deng)參數(shu)。通(tong)過(guo)粒(li)度(du)分(fen)級(ji)，得到用(yong)戶需要的(de)粒度(du)分(fen)布表(biao)和(he)分(fen)布圖(tu)以(yi)及(ji)d10、d50、d90等(deng)典(dian)型(xing)參數(shu)，並(bing)可根據需(xu)要選擇個(ge)數(shu)分(fen)布或體(ti)積分(fen)布。
•    
• 軟(ruan)件(jian)輸(shu)出(chu)項目(mu)：
•     包括原始(shi)數(shu)據（樣(yang)品信息和(he)測(ce)試(shi)信息）；分(fen)析(xi)數據(ju)（粒度(du)分(fen)布表(biao)/粒(li)度(du)分(fen)布圖(tu)）；圖(tu)形(xing)（頻率分(fen)布直(zhi)方(fang)圖(tu)和(he)累(lei)計(ji)分布曲(qu)線）；典(dian)型(xing)結果(guo)（中(zhong)位徑(jing)，平均徑(jing)，圓(yuan)形(xing)度(du)等(deng)）。
•    
• 報(bao)告輸(shu)出(chu)能(neng)：
•     可以(yi)打印原始圖(tu)像(xiang)和(he)多種(zhong)測(ce)試(shi)報告，包括粒度(du)報(bao)告，圖(tu)像(xiang)報告，圓(yuan)形(xing)度(du)報(bao)告以(yi)及(ji)粒(li)度(du)和(he)典(dian)型(xing)圖(tu)像(xiang)的綜(zong)合報告。

五、DP-2006顆粒圖(tu)像(xiang)分析(xi)儀(yi)適用域(yu)

•     研(yan)磨材料：白(bai)剛(gang)玉(yu)、金剛(gang)石(shi)、碳化(hua)矽(gui)、碳化(hua)硼(peng)、氧化(hua)鈰等(deng)；
•     電池(chi)材料：石墨、鈷(gu)酸鋰等；
•     其(qi)他：可(ke)用(yong)來觀(guan)察(cha)各(ge)種(zhong)非(fei)金屬(shu)粉、金屬(shu)粉以(yi)及(ji)其(qi)他粉體(ti)。