四探(tan)針(zhen)測(ce)試(shi)儀(yi)可以應(ying)用在(zai)以下(xia)這些行(xing)業中(zhong)

　　四(si)探針(zhen)測(ce)試(shi)儀(yi)采用四(si)探(tan)針(zhen)雙(shuang)電測量(liang)方法，適用於企業(ye)、等院(yuan)校(xiao)、科研(yan)，是檢(jian)驗和(he)分(fen)析導(dao)體(ti)材料和(he)半導(dao)體(ti)材料在(zai)溫(wen)、真(zhen)空(kong)及(ji)氣氛(fen)條件下(xia)測(ce)量(liang)的種重(zhong)要的(de)具(ju)。本儀(yi)器(qi)配置各(ge)類(lei)測(ce)量(liang)裝(zhuang)置可(ke)以測(ce)試(shi)不(bu)同材(cai)料。液晶(jing)顯(xian)示(shi)，無(wu)需(xu)人(ren)計(ji)算(suan)，並帶有(you)溫(wen)度(du)補(bu)償能。采用度(du)AD芯(xin)片控制，恒(heng)流(liu)輸(shu)出，結構(gou)合(he)理(li)、質(zhi)量(liang)輕便，配備(bei)10英(ying)寸(cun)觸(chu)摸屏，軟(ruan)件(jian)可(ke)保存和(he)打印數(shu)據(ju)，自動(dong)生(sheng)成(cheng)報(bao)表；本儀(yi)器(qi)可顯(xian)示(shi)電阻、電阻率(lv)、方阻、溫(wen)度(du)、單(dan)位換(huan)算(suan)、溫(wen)度(du)系數(shu)、電流(liu)、電壓、探(tan)針(zhen)形(xing)狀、探(tan)針(zhen)間(jian)距(ju)、厚(hou)度(du)、電導(dao)率(lv)，配置不(bu)同的(de)測(ce)試(shi)治(zhi)具(ju)可(ke)以(yi)滿足不同材(cai)料的測(ce)試(shi)要求。測試(shi)治(zhi)具(ju)可(ke)以(yi)根(gen)據(ju)產(chan)品(pin)及(ji)測試(shi)項目(mu)要求選購。

 

　　四探針(zhen)測(ce)試(shi)儀(yi)是運用直線(xian)或(huo)方形(xing)四探針(zhen)雙(shuang)位測量。該儀(yi)器(qi)符合(he)單(dan)晶(jing)矽(gui)物(wu)理(li)測(ce)試(shi)方法家標(biao)準並(bing)參(can)考美A.S.T.M標(biao)準。利(li)用電流(liu)探(tan)針(zhen)、電壓探(tan)針(zhen)的(de)變(bian)換(huan)，行(xing)兩次(ci)電測量(liang)，對數(shu)據(ju)行(xing)雙電測分(fen)析，自動(dong)消(xiao)除(chu)樣(yang)品(pin)幾何(he)尺(chi)寸(cun)、邊(bian)界效(xiao)應(ying)以(yi)及(ji)探針(zhen)不(bu)等(deng)距(ju)和(he)機(ji)械(xie)遊(you)移(yi)等(deng)因素(su)對(dui)測(ce)量(liang)結果的影(ying)響(xiang)，它與單(dan)電測直線(xian)或(huo)方形(xing)四探針(zhen)相(xiang)比，大大(da)提度(du)，也(ye)可應(ying)用於產(chan)品(pin)檢(jian)測以(yi)及(ji)新(xin)材料電學(xue)性(xing)能研(yan)究(jiu)等用途(tu)。

 

　　應(ying)用：

　　四(si)探(tan)針(zhen)測(ce)試(shi)儀(yi)適用於半導(dao)體(ti)材料廠、半(ban)導(dao)體(ti)器件(jian)廠(chang)、科研(yan)單(dan)位、等院校對(dui)半(ban)導(dao)體(ti)材料的電阻性(xing)能測試(shi)。

　　四(si)探針(zhen)軟(ruan)件(jian)測(ce)試(shi)系統是(shi)個運行(xing)在(zai)計算(suan)機(ji)上(shang)擁有(you)友好測(ce)試(shi)界面的(de)用戶程(cheng)序(xu)，通(tong)過(guo)此(ci)測(ce)試(shi)程(cheng)序(xu)輔(fu)助(zhu)使用戶簡(jian)便(bian)地行(xing)各項測(ce)試(shi)及(ji)獲(huo)得測試(shi)數(shu)據(ju)並(bing)對(dui)測(ce)試(shi)數(shu)據(ju)行(xing)統計(ji)分(fen)析。

　　測試(shi)程(cheng)序(xu)控制四(si)探針(zhen)測(ce)試(shi)儀(yi)行(xing)測量(liang)並(bing)采集測試(shi)數(shu)據(ju)，把(ba)采(cai)集到(dao)的數(shu)據(ju)在(zai)計算(suan)機(ji)中(zhong)加(jia)以分(fen)析，然後(hou)把測(ce)試(shi)數(shu)據(ju)以(yi)表格，圖(tu)形(xing)直觀地記錄、顯(xian)示(shi)出來(lai)。用戶可對采集到(dao)的數(shu)據(ju)在(zai)電腦(nao)中(zhong)保存或者(zhe)打印以(yi)備(bei)日(ri)後參(can)考和(he)查看，還(hai)可以(yi)把(ba)采(cai)集到(dao)的數(shu)據(ju)輸(shu)出到(dao)Excel中(zhong)，讓(rang)用戶對數(shu)據(ju)行(xing)各種數(shu)據(ju)分(fen)析。