弱磁測(ce)量(liang)磁導(dao)率測(ce)量(liang)儀

磁導(dao)率測(ce)量(liang)儀  型號：DP-JDZ-2S

壹(yi)、產(chan)品(pin)應(ying)用(yong)：

DP-JDZ-2S磁導(dao)率測(ce)量(liang)儀是壹(yi)款(kuan)采(cai)用(yong)磁(ci)通(tong)門原(yuan)理(li)測(ce)量(liang)弱磁測(ce)量(liang)的儀器，具(ju)有操(cao)作簡(jian)便(bian)、工(gong)作穩(wen)定、讀數可(ke)靠(kao)的多功(gong)能(neng)測(ce)量(liang)儀器，是實(shi)驗室(shi)、野外(wai)探(tan)測(ce)的(de)測(ce)量(liang)儀器；主要(yao)用(yong)於(yu)石(shi)化、電子(zi)、機(ji)械(xie)、鉆探(tan)、材(cai)料(liao)、鑄(zhu)造(zao)等工(gong)業的的無(wu)損(sun)檢(jian)測(ce)、探(tan)測(ce)；適用(yong)於(yu)實(shi)驗(yan)室(shi)、野外(wai)的的(de)相(xiang)對磁導(dao)率、弱磁場(chang)梯(ti)度、磁場(chang)差(cha)的測(ce)量(liang)和比(bi)較(jiao)。

磁導(dao)率測(ce)量(liang)應(ying)用(yong)：

1.用(yong)於(yu)不銹鋼(gang)、錳(meng)鋼、有色(se)金(jin)屬(shu)等無(wu)磁(ci)、抗磁、弱磁材(cai)料(liao)及(ji)焊(han)接(jie)材料(liao)、填(tian)充、防護材(cai)料(liao)的(de)磁(ci)導(dao)率無(wu)損(sun)檢(jian)測(ce)，如(ru)測(ce)量(liang)石油鉆鋌(ting)、連接(jie)器、零(ling)件、無(wu)磁(ci)幹擾物(wu)等相(xiang)對磁導(dao)率測(ce)量(liang)。

2.用(yong)於(yu)不同牌(pai)號無(wu)磁(ci)鋼的磁(ci)導(dao)率比(bi)較(jiao)分類(lei)、相(xiang)同工(gong)件不同材(cai)料(liao)磁(ci)導(dao)率特(te)征(zheng)區分。

3.用(yong)於(yu)材(cai)料(liao)缺(que)陷、應(ying)力(li)檢(jian)測(ce)，隨(sui)時(shi)掌(zhang)握無(wu)磁(ci)鋼鑄件的(de)鑄(zhu)造產(chan)生的(de)雜質缺陷、熱處理、變(bian)形(xing)加(jia)工(gong)、機(ji)械(xie)加(jia)工(gong)後(hou)相(xiang)對相(xiang)對磁導(dao)率變(bian)化，及(ji)時(shi)更改(gai)加(jia)工(gong)工(gong)藝(yi)，防止產(chan)品(pin)相(xiang)對磁導(dao)率超出要(yao)求範圍(wei)，造(zao)成產品(pin)報廢(fei)。

二、產品(pin)參數特(te)點(dian)：

1.DP-JDZ-2S磁導(dao)率測(ce)量(liang)儀特(te)點(dian)：

1.1測(ce)量(liang)項目：無(wu)磁(ci)、抗磁材(cai)料(liao)的(de)相(xiang)對磁導(dao)率測(ce)量(liang)，磁化率測(ce)量(liang)（把小數點(dian)前(qian)1減掉。）

1.2通(tong)訊接(jie)口(kou)：USB上傳記(ji)錄(lu)到(dao)電腦，通(tong)訊格式(shi)為(wei)波(bo)特(te)率9600無(wu)校(xiao)驗停止位(wei)壹(yi)位(wei)的字符(fu)方式(shi)，傳輸(shu)線(xian)用(yong)通(tong)用(yong)TYPE數據線(xian)

1.3防護等級(ji)：IP 60

1.4儀器尺(chi)寸(cun)：140 x 70 x 30 mm (長(chang)×高×寬)

1.5顯示尺(chi)寸(cun)：128*64像(xiang)素

1.6儀器重量：0.4kg     

1.7充電電源：AC220V 50H，充電壹(yi)次(ci)使(shi)用(yong)10小時(shi)以上

1.8功  能(neng)：物(wu)理(li)調零、壹(yi)鍵清零(ling)、壹(yi)鍵校(xiao)準(zhun)、壹(yi)鍵記錄(lu)（實用(yong)型無(wu)）、標(biao)樣校(xiao)準(zhun)、對比(bi)檢(jian)查(zha)（實用(yong)型無(wu)）、實(shi)時(shi)磁導(dao)率測(ce)量(liang)數據傳輸(shu)、磁(ci)導(dao)率記錄(lu)數據翻(fan)頁查詢(xun)（實用(yong)型無(wu)）、按(an)日期時(shi)間搜(sou)索(suo)查(zha)找(zhao)磁(ci)導(dao)率記錄(lu)數據（實(shi)用(yong)型無(wu)）、磁(ci)導(dao)率記錄(lu)數據上(shang)傳（實(shi)用(yong)型無(wu)）。

2.磁導(dao)率儀測(ce)量(liang)參數：

2.1相(xiang)對磁導(dao)率無(wu)損(sun)檢(jian)測(ce)範(fan)圍;μr=1.0000~1.9999

2.2有效(xiao)分辨(bian)率為(wei)μr=0.0001（實(shi)用(yong)型為(wei)0.0015）

2.3測(ce)量(liang)誤(wu)差(cha)：±2.5%

2.4標準(zhun)試塊(kuai)：μr=1.0206（標(biao)配(pei)壹(yi)塊(kuai)標(biao)樣，以標樣磁導(dao)率為(wei)準(zhun)）

2.6磁導(dao)率與真空磁(ci)導(dao)率的比(bi)值(zhi)即(ji)相(xiang)對磁導(dao)率用(yong)μr表(biao)示。

2.7儀器測(ce)量(liang)數據為(wei)線(xian)性(xing)，可(ke)用(yong)不同的(de)標準(zhun)（標樣數據）校(xiao)準(zhun)儀器。

2.8測(ce)量(liang)數據保(bao)存(cun)（實(shi)用(yong)型無(wu)）：可(ke)壹(yi)次(ci)性(xing)保(bao)存(cun)10萬(wan)個(ge)測(ce)量(liang)數據，保(bao)存(cun)格式(shi)如(ru)，年(nian)月(yue)日(ri)時(shi)分秒(miao)+測(ce)量(liang)數據。