插回損測(ce)試儀（光(guang)插回損儀，回損儀，插損回損測(ce)試儀，光(guang)纖(xian)測試儀）是(shi)測(ce)試光(guang)纖(xian)連接(jie)器或(huo)者(zhe)光(guang)纖(xian)接頭(tou)的插入損耗(hao)(插損)、回波損耗(hao)(回損或(huo)者(zhe)背(bei)向(xiang)反射損耗(hao))的儀器。內(nei)置(zhi)穩(wen)定化光(guang)源(yuan)、度(du)光(guang)率計、插損測(ce)試儀和(he)回波損耗(hao)測(ce)試儀為(wei)體(ti)的多能光(guang)通(tong)信(xin)測試儀表。它廣(guang)泛應(ying)用於光(guang)纖(xian)光(guang)纜、光(guang)無(wu)源(yuan)器件(jian)和(he)光(guang)纖(xian)通信(xin)系(xi)統(tong)的插損、回損測(ce)試以及(ji)穩(wen)定性(xing)測(ce)量(liang)。可以(yi)用於生(sheng)產(chan)廠(chang)商器件(jian)檢(jian)測、科(ke)研(yan)機(ji)構(gou)研(yan)究(jiu)開(kai)發和程(cheng)施維(wei)護(hu)的測試儀表。

1.插回損測(ce)試儀 光(guang)插回損儀 回損儀 插損回損測(ce)試儀 型(xing)號：DP-890

產(chan)品概述(shu)：
  插回損測(ce)試儀（光(guang)插回損儀，回損儀，插損回損測(ce)試儀，光(guang)纖(xian)測試儀）是(shi)測(ce)試光(guang)纖(xian)連接(jie)器或(huo)者(zhe)光(guang)纖(xian)接頭(tou)的插入損耗(hao)(插損)、回波損耗(hao)(回損或(huo)者(zhe)背(bei)向(xiang)反射損耗(hao))的儀器。內(nei)置(zhi)穩(wen)定化光(guang)源(yuan)、度(du)光(guang)率計、插損測(ce)試儀和(he)回波損耗(hao)測(ce)試儀為(wei)體(ti)的多能光(guang)通(tong)信(xin)測試儀表。它廣(guang)泛應(ying)用於光(guang)纖(xian)光(guang)纜、光(guang)無(wu)源(yuan)器件(jian)和(he)光(guang)纖(xian)通信(xin)系(xi)統(tong)的插損、回損測(ce)試以及(ji)穩(wen)定性(xing)測(ce)量(liang)。可以(yi)用於生(sheng)產(chan)廠(chang)商器件(jian)檢(jian)測、科(ke)研(yan)機(ji)構(gou)研(yan)究(jiu)開(kai)發和程(cheng)施維(wei)護(hu)的測試儀表。

產(chan)品特(te)點(dian)：

　　(1)測試度(du)

　　通過(guo)穩(wen)定的激光(guang)器，的微(wei)電(dian)子(zi)術(shu)和光(guang)檢(jian)測術(shu)，結(jie)合(he)前(qian)的軟(ruan)件術(shu)，使得儀器輸(shu)出(chu)率穩(wen)定、檢(jian)測速(su)度(du)快、測量範圍(wei)寬(kuan)、測(ce)試度(du)。

　　(2)波長同(tong)步(bu)切換

　　在(zai)插損/回損模(mo)式(shi)下(xia)，光(guang)源(yuan)與(yu)率計波長同(tong)步(bu)切換，不(bu)需(xu)分別(bie)設(she)定波長。

　　(3)多種作模(mo)式(shi)

　　該測(ce)試儀表集成了(le)回波損耗(hao)測(ce)試、插入損耗(hao)測(ce)試和光(guang)率測試。

　　(4)操作簡單方(fang)便(bian)

　　回損/插損同(tong)步(bu)測(ce)量(liang)，無需(xu)按鍵切換，不(bu)合(he)格顏(yan)色(se)告(gao)警(jing)。

　　(5)專門為(wei)操作人(ren)員習慣設(she)計，中(zhong)文彩(cai)屏(ping)顯示，長期(qi)操(cao)作無疲(pi)勞感(gan)。

　　(6)具有(you)通訊接(jie)口和(he)開(kai)放(fang)的協議，通(tong)過(guo)腳踏開(kai)關(guan)保(bao)存並打(da)印數據(ju)。

術標(biao)：

插入損耗(hao) 
檢(jian)測波長 850~1625nm 
探(tan)頭(tou)類(lei)型(xing) InGaAs 
探(tan)測面(mian)直(zhi)徑 2mm 
測量(liang)範圍(wei)（dBm） -80～+10 
率不(bu)確(que)定(ding)度(du) ≤±5% 
顯示(shi)分(fen)辨率 0.001 
接口(kou) FC/SC/ST/通用φ2.5mm/通用φ1.25mm 
回波損耗(hao) 
檢(jian)測波長 1310nm/1550nm
 
測試範圍(wei) 0~75dB 
測試度(du) < ±0.25dB 
光(guang)源(yuan)輸(shu)出(chu)穩(wen)定性(xing) ≤±0.03/15分鐘，≤±0.06/8小時(shi) 
接口(kou) FC/APC 
其他(ta)標(biao) 
作電源(yuan)(V) AC100～240(50/60Hz) 
重量(Kg) 3.5 

2.凝點(dian)傾(qing)點(dian)測定(ding)儀，石油產(chan)品凝點(dian)傾(qing)點(dian)檢(jian)測儀(兩(liang)槽(cao)四(si)孔) 型(xing)號;DP-510C

、用途(tu)及適用範圍(wei)
本儀器是(shi)按(an)照中(zhong)華人(ren)民共和(he)標準(zhun)GB/T510《石油產(chan)品凝點(dian)測定(ding)法》、GB/T3535《石油產(chan)品傾(qing)點(dian)測定(ding)法》規(gui)定的要求(qiu)設計制的，適用於按(an)上(shang)述(shu)標(biao)準(zhun)規(gui)定的方法測(ce)定(ding)石油產(chan)品的凝點(dian)、傾(qing)點(dian)。

二(er)、主要術規(gui)格及(ji)參(can)數(shu)
1、作電源(yuan)：      AC220V±10%；50Hz。
2、冷(leng)槽(cao)控(kong)溫(wen)：      室(shi)溫(wen)～-70℃
3、制冷(leng)系(xi)統(tong)：      新型(xing)致(zhi)冷(leng)壓(ya)縮(suo)機(ji)。
4、作孔數:       兩槽(cao)四(si)孔  兩槽可(ke)以(yi)不(bu)等(deng)溫(wen)
5、控溫(wen)度(du)：      ±0.1℃ 。 
6、外形(xing)尺(chi)寸(cun)：      640mm×530mm×700mm   

3.塗片離(li)心機(ji)/離(li)心機(ji)/載(zai)玻片離(li)心機(ji)  型(xing)號：DP-6

儀器特(te)點(dian)：

DP-6型(xing)塗片離(li)心機(ji)采(cai)用直(zhi)流(liu)無(wu)刷(shua)電(dian)機(ji)，免(mian)維(wei)護(hu)；微(wei)電(dian)腦(nao)控(kong)制，可預(yu)選(xuan)轉速(su)、時間(jian)、離(li)心力，液(ye)晶(jing)顯示(shi)，操作簡便(bian)；內(nei)置(zhi)自(zi)動(dong)平(ping)衡裝置；預警(jing)報(bao)警(jing)能(neng)，多種保(bao)護(hu)，安(an)可靠(kao)。適用於宮頸細(xi)胞(bao)薄層(ceng)制(zhi)片、腦(nao)脊(ji)液(ye)、胸(xiong)腔(qiang)積(ji)液等細(xi)胞(bao)薄層(ceng)制(zhi)片。

術參(can)數(shu)：

轉速(su)Max Speed 2000r/min

相對(dui)離(li)心力 Max RCF 600×g

定時(shi)範圍(wei) Time Range 1~999min

電源(yuan) Power Supply AC220V 50Hz 2A 80W

外形(xing)尺(chi)寸(cun) Dimension 35×28×25cm

重量 Wight 16kg

轉子 制片夾×12

4.場效(xiao)應(ying)管(guan)測(ce)試儀/MOS管(guan)測(ce)試儀 型(xing)號：DP9610A

、概述(shu) 　
　 率場效(xiao)應(ying)管(guan)測(ce)試儀，是(shi)種新(xin)穎(ying)的數字顯(xian)示式率場效(xiao)應(ying)管(guan)參(can)數(shu)測試裝置(zhi)，可(ke)用於標(biao)稱 電流(liu)約在(zai)2-85A，率在(zai)300W以內(nei)的N溝導(dao)率場效(xiao)應(ying)管(guan)主要參(can)數(shu)的測試。它可(ke)以(yi)準(zhun)確(que)測量擊(ji)穿電(dian)壓(ya) VDSS、柵(zha)開(kai)啟電壓VGS（th）和(he)放(fang)大(da)特(te)性(xing)參(can)數(shu)跨導(dao)Gfs，尤其(qi)是(shi)跨導(dao)Gfs的測試電流(liu)可(ke)以(yi)達到(dao)50A，由於采(cai) 用脈沖電流(liu)測(ce)試法，即(ji)使(shi)在(zai)大電(dian)流(liu)測(ce)試時也不(bu)會(hui)對(dui)被測(ce)器件(jian)成(cheng)何損壞(huai)，更(geng)可(ke)以(yi)在(zai)大電(dian)流(liu)狀(zhuang)態(tai)下(xia)對(dui)場效(xiao) 應(ying)管(guan)行(xing)參(can)數(shu)致(zhi)性(xing)的測試（配對(dui)）；儀器*可(ke)用於同(tong)等(deng)電流(liu)等(deng)級(ji)的IGBT參(can)數(shu)的測量；儀器還(hai)是(shi)臺性(xing) 能(neng)十分*的電子元器件(jian)耐(nai)壓(ya)測(ce)試裝置(zhi)，其(qi)測(ce)試耐(nai)壓(ya)時(shi)的漏(lou)電(dian)流(liu)有(you)1mA、250uA、25uA 三(san)擋可(ke)以(yi)選(xuan)擇。儀器 主要用於率場效(xiao)應(ying)管(guan)和(he)IGBT的質量檢(jian)驗、參(can)數(shu)的配對(dui)及(ji)其(qi)它電子元器件(jian)的耐(nai)壓(ya)測(ce)試之用。儀器分(fen)N溝導(dao)型(xing) 測試儀和(he)P溝導(dao)型(xing)測試儀兩(liang)種。儀器外(wai)型(xing)美觀、性(xing)能(neng)穩(wen)定、測(ce)量(liang)準(zhun)確(que)、操作簡單、使(shi)用安(an)方便(bian)。
二(er)、主要術性(xing)能(neng) 　　
　　 1、擊(ji)穿電(dian)壓(ya)VDSS測(ce)量(liang)範圍(wei)： 0—1999V， 度(du)：≤2.5% 。 　
　　　 2、IDSS可分(fen)三(san)擋選(xuan)擇： 1mA、250uA、25uA 。
　　　　 3、柵開(kai)啟電壓VGS（th） 測(ce)量(liang)範圍(wei)： 0—10V。 度(du)：≤5% 。
　　　　 4、Gfs跨導(dao)測(ce)試電流(liu)Idm：不(bu)小於(yu)1—50 A連續(xu)可調(tiao)， 度(du)：≤10 % 。 　
　　 　5、Gfs跨導(dao)測(ce)試範圍(wei)：1—100 。
三(san)、主要測試能 　
　　　 1、率場效(xiao)應(ying)管(guan)的擊(ji)穿電(dian)壓(ya)VDSS、柵(zha)開(kai)啟電壓VGS(th)、跨導(dao)Gfs的測試。 　
　　　 2、IGBT的擊(ji)穿電(dian)壓(ya)V(BR)ces、柵(zha)開(kai)啟電壓VGE(th)、跨導(dao)Gfs的測試。
　　　　 3、率場效(xiao)應(ying)管(guan)和(he)IGBT在(zai)50A以下(xia)的意電流(liu)狀(zhuang)態(tai)下(xia)致(zhi)性(xing)的測試，可用於配(pei)對(dui)。
　　　　 4、對(dui)其(qi)它(ta)更大電流(liu)和(he)率的場效(xiao)應(ying)管(guan)及(ji)IGBT的測試：（見(jian)下(xia)面(mian)介紹(shao)）。
　　　 　5、各類(lei)晶體(ti)三(san)管、二(er)管(guan)、穩(wen)壓管(guan)擊(ji)穿電(dian)壓(ya)的測試。
　　　　 6、壓敏(min)電(dian)阻(zu)電壓(ya)的測試等。

5.揉搓試驗儀/揉搓測(ce)試儀 型(xing)號：DP-02

揉搓試驗儀適用於各(ge)種柔(rou)韌(ren)性(xing)薄膜(mo)、復合(he)膜(mo)、塗層膜(mo)等(deng)材(cai)料的抗揉搓性(xing)能(neng)試驗。可以模(mo)擬(ni)薄膜(mo)在(zai)生(sheng)產(chan)、、運(yun)輸(shu)等(deng)過(guo)程中(zhong)的揉搓、折壓(ya)損傷(shang)等(deng)行(xing)為(wei)。揉搓試驗結(jie)束後(hou)，通過(guo)檢(jian)測試樣前(qian)後(hou)針孔數量的變(bian)化或(huo)阻(zu)隔(ge)性(xing)能(neng)的變(bian)化判(pan)斷材(cai)料的抗揉搓性(xing)能(neng)，為(wei)包(bao)裝(zhuang)設(she)計與實際應(ying)用提供(gong)量(liang)化依(yi)據(ju)。

註：本產(chan)品價格(ge)僅(jin)為配件價格(ge)，由於檢(jian)測參(can)數(shu)不(bu)同(tong)對(dui)儀器的終要求(qiu)也不(bu)同(tong)，所展示(shi)的價格(ge)並非產(chan)品終價格(ge)，如(ru)給(gei)您帶來不(bu)便(bian)請諒(liang)解(jie)

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