DP-PD06D混(hun)凝土(tu)線膨脹系數(shu)測(ce)定儀(yi)根(gen)據(ju)DL-T5150-2001標準，主要用於測(ce)定(ding)混(hun)凝土(tu)線性(xing)膨脹系數(shu)，同時可(ke)以適用於瀝(li)青等材(cai)料(liao)，適用於室(shi)內(nei)成(cheng)型的(de)試件(jian)和現場鉆取(qu)的(de)芯(xin)樣(yang)。廣泛應用於程質(zhi)量檢測(ce)、教學(xue)科(ke)研行(xing)業

DP-M6T氯(lv)離(li)子(zi)擴(kuo)散系數(shu)測(ce)定儀(yi)用途(tu): 主要用來(lai)測定混(hun)凝土(tu)氯(lv)離(li)子(zi)穩態(tai)快速(su)遷(qian)移(yi)的(de)擴散系數(shu)，定(ding)量評(ping)價混(hun)凝土(tu)抵抗(kang)氯(lv)離(li)子(zi)擴(kuo)散的(de)能(neng)力(li)。

DP-W50+鋼(gang)筋位(wei)置(zhi)測定(ding)儀(yi)適(shi)用範(fan)圍(wei): 檢測混(hun)凝土(tu)保護(hu)層厚(hou)度(du) 檢(jian)測混(hun)凝土(tu)構件(jian)內鋼(gang)筋位(wei)置(zhi)、鋼(gang)筋間距、鋼(gang)筋分(fen)布 估(gu)測鋼(gang)筋直(zhi)徑 電(dian)纜(lan)、水暖(nuan)管(guan)道(dao)的(de)探測(ce)

建(jian)築玻(bo)璃遮(zhe)陽(yang)系數(shu)半輻射率(lv)綜(zong)合(he)檢(jian)測儀(yi)建(jian)築玻(bo)璃測(ce)試標 檢測依(yi)據(ju) GB/T2680-94；　　 JGJ/T151-2008 紫(zi)外(wai)光透射比、反射比； 可(ke)見(jian)光透射比、反射比； 太(tai)陽(yang)光直接透(tou)射(she)比、直接反射比； 太(tai)陽(yang)光直接吸收(shou)比、太(tai)陽(yang)能(neng)總(zong)透射比； 遮(zhe)陽(yang)系數(shu)；遮(zhe)蔽系數(shu)；半輻射率(lv)(選(xuan) 配）；

混(hun)凝土(tu)電(dian)阻率測定儀(yi)巖(yan)石(shi)儀(yi)能(neng)特(te)點： 1.采(cai)用點陣大屏(ping)幕(mu)LCD顯(xian)示(shi)屏(ping)實現(xian)人機(ji)對話。 2.采(cai)用可(ke)靠(kao)性速(su)MCU作(zuo)為核心處理器。 3.采(cai)用6節(jie)幹電(dian)池(chi)供(gong)電(dian)，方便(bian)攜(xie)帶。 4.采(cai)用速(su)度(du)ADC行(xing)電(dian)阻率檢測和電(dian)流(liu)百(bai)分(fen)比檢測(ce)。 5.數據(ju)存(cun)儲采(cai)用程管(guan)理結構，方便(bian)導出(chu)和後期(qi)處理。 6.電(dian)阻率檢測采(cai)用四(si)探針法(fa)，提(ti)檢測(ce)的(de)準確(que)性(xing)。 7.保(bao)存(cun)的(de)數據(ju)可(ke)以導出(chu)到PC機(ji)上行(xing)處(chu)理、產生(sheng)報(bao)告(gao)等。